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名称：D-VC系列 D-VC探针卡采用先进的可弯曲式探针（Cobra），用于 WLCSP、Flip Chip、SOC & Logic Device、MCU等晶圆量产阶段，高效（高密度、高同测DUT数）测试。

重要技术指标

我们的优势

品质保证 Quality Assurance